X-RAY 5000 系列仪器采用模块化设计，可轻松集成到生产线中。例如，当必须测量大尺寸底材（如锡板）上的镀层时，X-RAY 5000 堪称理想解决方案。根据底材和镀层材料的不同，客户可按需求选配X射线源、探测器以及基本滤片。特性

与生产系统连接后，可在运行的生产过程中持续测量

适用广泛：可用于真空或大气环境，样品表面温度高可达 400°C

特别坚固的设计和结构，在恶劣条件下也可持续获得精确的测量结果

非常适用于对具有大尺寸表面的产品进行镀层厚度测量与材料分析

应用：

涂层厚度测量

测量太阳能行业中 CIGS、CIS、CdTe 以及 CdS 镀层的厚度

金属带材、金属箔以及塑料箔上厚度仅为几微米的镀层

材料分析

测量光伏行业中 CIGS、CIS、CdTe 以及 CdS 镀层的成分

连续生产过程中的金属镀层

溅射镀和电镀生产中的过程监控